產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST
紫外/可見光照度計(jì)采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測(cè)器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。儀器集紫外輻照度測(cè)量和照度測(cè)量?jī)煞N功能于一體，廣泛應(yīng)用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路工業(yè)、農(nóng)業(yè)、建筑、環(huán)境、衛(wèi)生、科研等各個(gè)領(lǐng)域。
■產(chǎn)品特點(diǎn)
* 光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正
* 數(shù)字液晶顯示，帶背光
* 手動(dòng)/自動(dòng)量程切換
* 數(shù)字輸出接口（USB冗余供電）
* 低電量提醒
* 自動(dòng)延時(shí)關(guān)機(jī)
* 有數(shù)字保持
* 輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
■主要技術(shù)指標(biāo)
照度：
* 測(cè)量范圍：( 0.1~199.9×103 ) lx
* 相對(duì)示值誤差：±4％
* V (λ)匹配誤差： f1 ≤6%
* 響應(yīng)時(shí)間：＜1秒
* 非線性、換擋、疲勞特性等誤差：均符合*照度計(jì)標(biāo)準(zhǔn)
紫外輻照度：
* 波長范圍及峰值波長：λ：(315~400) nm；λp = 365 nm
* 輻照度測(cè)量范圍： (0.1～199.9×103) uW/m2
* 帶外區(qū)雜光： 小于0.02％
* 相對(duì)示值誤差：±10％
* 線性誤差：±1%
* 換檔誤差：±1%
* 短期不穩(wěn)定性：±1%（開機(jī)30min后）
* 疲勞特性：衰減量小于2%
* 零值誤差：滿量程的±1%
* 響應(yīng)時(shí)間：1秒
